匹配 Cayley 尺度與多尺度 Li 銀行：對重新界定的局部目標交出精確缺陷公式，屬窄域正結果而非 RH 證明

Cayley 映射 W_c(z) = (z+c)/(z-c)（z = ρ - 1/2）對任意 c > 0 都把整條 critical line 精確送到 |W| = 1，是對目標流形的精確商化，不需要 Lambert-W 近似、零點高度漸近或矩截斷。線外位移因而化為純徑向缺陷 log|W_c(z)| = artanh(2cx/(R^2+c^2))，其唯一最佳尺度為 c* = |z|，此時相位亦鎖定於 arg W = -π/2。在該匹配尺度且 n = 4m 時，完整四重零點軌道的廣義 Li 貢獻精確等於 -8·sinh^2(2m·artanh(x/R))：線上軌道為 0，線外軌道嚴格為負，正是前一局所要求的局部缺陷放大器；局部靈敏度由標準 Li 尺度 c = 1/2 的 n 約 γ^2/|x| 改善到 n 約 γ/|x|。對未知零點高度，二進尺度銀行可保留至少 80% 的最佳局部靈敏度，且廣義 Li 係數 Λ_n(c) 可由 log xi 的實點導數計算，故此為可及的觀測量而非需先知零點的事後量度。論文明言未新發明廣義 Li 判準（引 Li 1997、Bombieri–Lagarias 1999、Sekatskii 2013/14），且完美的局部缺陷不等於全域判準閉合，因為 Λ_n(c) 仍是所有零點軌道的總和。