認證高度審計與第一次二次 Chabauty 根過濾，及 QC 極點消去更正、真正的假分支與跨質數 Mordell–Weil 高度障礙

R22：顯示 R19 的高度通過極小模型審計，並在原型盤中開始二次 Chabauty 根過濾（級數 20u + 8u² + 22u³ mod 121，邊界目標 ω* = 9757），報告第二個「假」分支 u = 3 (mod 11)——這個級數與分支被 R23 取代。R23：更正 R22 遺漏的極點消去項（級數 43u + 19u² + 22u³ mod 121；分支 u = 0 與 u_mock = 42170 mod 11^5），並用六個質數上的 11 準素 Mordell–Weil 資料加 r = ±1 mod 256 建出 33,600 個 CRT 格（模數 N = 1029304283393515824664282755428096），推出該分支上的任何有理點滿足 H(r) ≥ 76,108,490,872,046——明說「還不是固定切片的不存在性定理」。