IDRP-02:來源脈衝可見性、過濾痕跡變異、PFET 爆發耦合、對數原子增厚與移動視窗耗盡

Source-Impulse Visibility, Filtered Trace Variation, PFET Burst Coupling, Logarithmic Atom Thickening, and Moving-Window Depletion

IDRP-01 證明兩個截然不同的時間事實:在強 Type-I 臨界分支,外部集中理論已給出全拋物厚度狀態封包;對一般能量類頻譜原子,普遍的 L_t^(4/3) Ḣ_x^(-1) 時間作用只給出很次拋物的持續性下限。缺失的問題是「爆發可見性問題」(BVP)。本文證明對過濾渦度痕跡而言,快速損失在機制帳本層級並非不可見:證明過濾機制爆發定理(選定的過濾恩斯特羅菲原子若在某窗上損失固定量,該損失必由擴散、負向近場伸展、遠場應變、交換子強迫或局部化支付);結合 DCRP 對數遠場原子下限,證明全拋物窗片封包—或—爆發定理。證明抽象的雙來源爆發放大定理,並應用到速度/渦度非線性強迫。定義爆發到缺陷實現(BDR)為缺失的非重言橋接。