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NS-X72 · 57 參數掃描 2026-08

X72-57:黏性延拓與伴隨正性分岔映射

承接Round56在單一正規化黏性下的嚴格封閉,本輪把黏性恢復為連續參數,研究正則中央係數是否可能隨黏性變號。證明尾端壓縮係數對黏性有精確的比例分解,使得任意固定的正黏性都能把嚴格壓縮的起點移到足夠深的邊帶,意即正性若會失敗,只可能發生在有限核心的匹配或某個孤立零點,而非尾端無窮遠處;對橫跨八個數量級的黏性做對數掃描,兩個源纖維上該係數恆為正,且在黏性趨零與趨無窮兩端分別呈現正的線性與反比漸近律。Route停在STOP-C61(黏性一致正性/端點延拓缺口):全區間無零點目前僅由高解析度的數值掃描支持,並非已證的定理,交由下一輪處理小黏性下的奇異端點;本輪並附有數值驗證腳本與CSV數據。

本輪狀態:參數掃描 — 取自檔案自身的 objective / STOP-TRANSITION-ILLEGAL 節點,原意照登,非全文逐字翻譯。

連接 · Connections

跟系列其他輪次的關係,盡量用它自己文件裡的話,不是我的解讀。

NS-X72 進度Round 57 / 71(全系列缺 11、14,共 69 篇已上線)

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