MORP-02:原生缺陷萃取、缺陷完成緊緻性、剖面分裂、調和壓力商與最小剖面存在性

Native Defect Extraction, Defect-Completed Compactness, Profile Splitting, Harmonic-Pressure Quotients, and Minimal-Profile Existence

MORP-01 把最小障礙構造化簡為四個模組(M-XTR、M-COM、M-TR、M-RIG),本篇攻擊前兩個。核心難題微妙:危險終端狀態可能在某個奇點前時刻量值非零,但一般時空緊緻拓樸會完全遺忘它。因此需要一種同時「由原生 Navier–Stokes 量生成」「緊緻到可達極小元」「強到不抹除已萃取障礙」「靈活到能保留純缺陷極限」的拓樸。建立顯式的缺陷完成緊緻拓樸,在標準一致局部合適弱解界下證明速度的強局部 L³ 緊緻性與主動 Calderón–Zygmund 壓力的強 L^(3/2) 緊緻性(調和壓力則保留為獨立的弱商/尾端座標),從弱 H¹ 收斂萃取非負耗散缺陷測度,證明時間切片萃取障壁定理與厚化狀態/缺陷載體定理,給出條件式最小剖面存在定理。