DCRP82 / X72R65:餘維二跡障礙與Kelvin濃度缺陷

承接 DCRP81 將 Kelvin 殘量化約為次網格環量通量 K^sgs_ℓ 並提議以管狀增厚吸收進既有體積型交換子偵測器的計畫,本輪檢驗此吸收是否無條件成立。證明並非如此:構造明確的餘維二運動學反例——一函數在曲線附近濃聚,線跡質量為 O(1) 而管狀歸一化體積質量卻趨於零——顯示不存在通用的跡對體積不等式;推導精確因子分解 S̃_C=Θ_tr·S̃_T,其中 Θ_tr 為無量綱餘維二跡比,唯有額外假設 Θ_tr≲1 才能完成吸收,這是對 D81 計畫的重要修正。結論:Kelvin 終端問題化約為 R_K⟹S̃^(4)_active∨R_tr∨已知材料非緊性,二階黏性之謎已降階為一階材料線跡濃度問題 R_tr,留給 DCRP83 檢驗 Θ_tr→∞ 是否強迫更細的活躍橫向尺度。