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MCC-OE-16 · 更正:可逆細條座標
MCC-OE:有測量構造閉包與可觀測量窮盡
MCC-OE-16 · 更正:可逆細條座標
Neo.K(原文署名)
Sliver-Quotient Soundness Correction 與 Eight-Chamber Arithmetic Closure:從「連續維度壓縮」修正為「可逆 Sliver 座標 + 離散 Topology Quotient」
更正 MCC-OE-15:細條映射是可逆的仿射映射(det M_S ≈ 10.938),所以被商掉的只有離散的有限拓撲身分,不是連續自由度;並在研究區間權威下閉合八個 chamber 的主算術層(Φ2 ≥ c* > 0.22558633)。
15 的「連續維度壓縮」被更正為可逆座標加離散拓撲商;八室主算術層在研究區間權威下閉合。
這是一次自我更正;「closed」只涵蓋主算術層,有限拓撲商的 soundness 仍是 OPEN。15 的標頭「SECOND-ORDER FACTORIZATION PROVED」省略了本文所附的「PROVED AT 09C MODEL LEVEL」限定。